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talysurf cci 2000泰勒輪廓儀經(jīng)銷(xiāo)商 Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理效果，可高精度測(cè)量表面形貌保障性、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積主要抓手。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件保障，半導(dǎo)體器件，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域空間載體。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)體製。 -
日本美能達(dá)CR-400色差儀售后完善 CR-400美能達(dá)色差儀主要的改進(jìn)重點(diǎn)是提高可用性和功能，例如重新設(shè)計(jì)的數(shù)據(jù)處理器即將展開，具有用于測(cè)量數(shù)據(jù)的數(shù)字或圖形顯示的大型背光顯示器和內(nèi)置的熱高速打印機(jī)向好態勢。 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器現(xiàn)在可以存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)目標(biāo)顏色和1,000個(gè)測(cè)量。 -
taylor輪廓儀formtalysurf i-series經(jīng)銷(xiāo)商 Form Talysurf i系列電感式粗糙度輪廓儀:基于大量精密技術(shù)創新科技，該系列產(chǎn)品將為您提供準(zhǔn)確和可靠的計(jì)量更默契了。用于表面粗糙度和輪廓測(cè)量的高分辨率測(cè)量系統(tǒng)是眾多汽車(chē)、軸承服務機製、齒輪等行業(yè)應(yīng)用的理想選擇流程。 -
泰勒檢測(cè)設(shè)備Surtronic DUO表面粗糙度儀 粗糙的表面通常磨損比表面光滑的表面更快。 磨損的表面也更容易發(fā)生裂紋培訓，腐蝕和破裂等特點。 然而，粗糙表面的一個(gè)好處是附著力。 因此不合理波動，粗糙度是確定表面對(duì)于所述目的的適用性的關(guān)鍵參數(shù)。 表面粗糙度測(cè)試儀用于準(zhǔn)確地確定材料的表面紋理薄弱點。粗糙度儀主要用于機(jī)械加工制造業(yè)上高質量，主要是金屬加工制造。 -
taylor hobson粗糙度輪廓儀測(cè)頭 1mm垂直量程/ 16nm分辨率:為精密金屬加工和其它應(yīng)用提供形狀（輪廓）和表面粗糙度測(cè)量能力效高。200mm的水平行程：在電感系統(tǒng)內(nèi)推出建設應用，可以提供大的測(cè)量容積。標(biāo)準(zhǔn)的120mm水平行程也可以提供廣度和深度。 -
英國(guó)泰勒公司便攜式粗糙度儀SURTRONIC 25 英國(guó)泰勒公司便攜式粗糙度測(cè)量?jī)xSURTRONIC 25是一種體積小應用的因素之一、攜帶方便的表面粗糙度測(cè)量?jī)x，被廣泛應(yīng)用于加工現(xiàn)場(chǎng)或在計(jì)量室進(jìn)行進(jìn)一步分析日漸深入。
