費(fèi)希爾測厚儀DualScope DMP20信息測量原理與核心性能

測量原理

菲希爾 DualScope DMP20 測厚儀整合兩種經(jīng)典測量技術(shù)效率，滿足不同基材與涂層的檢測需求：

磁感應(yīng)法：遵循 DIN EN ISO 2178 標(biāo)準(zhǔn)基石之一，針對鐵、鋼等磁性金屬基材質量，通過檢測涂層對磁場的影響全技術方案，精準(zhǔn)計(jì)算非磁性涂層（如油漆便利性、鍍鉻層）的厚度講實踐。

電渦流法：依據(jù) DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)，適用于鋁領域、銅等非磁性金屬基材研究進展，利用涂層厚度對電渦流強(qiáng)度的干擾特性，測量非導(dǎo)電涂層（如陽極氧化膜、塑料涂層）的厚度溝通機製。

核心測量性能

范圍與精度：測量范圍隨探頭及材料組合靈活變化，覆蓋多種涂層厚度需求深度；精度達(dá) ±(1% 讀數(shù) + 1µm)助力各行，確保數(shù)據(jù)可靠。

分辨率：最小分辨率為 0.1µm帶來全新智能，可捕捉涂層厚度的微小差異，滿足高精度檢測場景核心技術體系。

探頭適配性：支持多種可更換數(shù)字探頭自主研發，兼容 F 系列探頭（需 DMP-F 適配器），適配平面新產品、曲面意向、小孔等復(fù)雜工件的測量需求。