超聲波法利用瑞利散射的物理現(xiàn)象。當隨機分布的散射物體遠小于波長時，就會出現(xiàn)瑞利狀態(tài)的散射更加廣闊。后向散射功率隨入射波頻率的四次方增加深度。例如開展試點，在超聲檢測中飛躍，它可用于微觀結構表征和有效晶粒尺寸評估[3]生產效率。在瑞利體系中項目，后向散射功率取決于散射物體的有效尺寸的三次方相對開放。在固體材料中，由于鐵的聲學晶體各向異性綜合運用，可以使用剪切波相貫通，其優(yōu)點是具有較高的散射系數(shù)，但具有角束掃描的實際缺點多晶金屬中的晶粒是密集堆積的脫穎而出。假設有效 的平均晶粒尺寸系統、不存在多重散射貢獻、平均干 涉和晶界處的平均折射率[4]積極影響，簡化了基本方 程方法。 瑞利散射系數(shù) σλ 估計為： σλ ～ ?4 ? Ae3 ? RM 這種簡化的關系顯示了材料因素在后向散射 強度中的作用。頻率 ? 是比例因子進一步提升；頻率的增加 會使材料特性的分辨率以四次方增加重要的意義。有效晶粒尺寸 Ae3 表示各種散射源的貢獻和多重散射的影 響集成，RM表示散射物體界面處的平均阻抗對比 度。 假設細晶粒馬氏體和粗晶粒核心材料之間存 在界面關註度，測量的反向散射強度的增加通過飛行時 間評估提供有關界面深度的信息，知道角度入射 角和聲速。該方法檢測到未受影響的核心材料的 過渡穩中求進，從而指示總硬化深度 (THD) 的厚度橫向協同。 但是，不可能測量表面滲碳層深度 (CHD) 或滲 氮硬化深度 (NHD)再獲，因為通過有效晶粒尺寸在 表面和芯部之間沒有明確定義的界面穩定性。